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半導體設備- 製程 / Coater / CSE - S-470

光阻塗佈機/Coater

CSE S-470主要是用來作半導體黃光製程的光阻塗佈。Spin Coating是最廣為用來上光阻的方法,通常的做法是將定量的阻劑塗佈在晶圓中心,在藉由不同階段的轉速和時間控制,使阻劑均勻塗佈在晶圓表面上。

相關應用

半導體黃光製程應用
GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / Coater / SVS – MSX1000

光阻塗佈機/Coater

SVS MSX-1000主要是用來作半導體黃光製程的光阻塗佈。Spin Coating是最廣為用來上光阻的方法,通常的做法是將定量的阻劑塗佈在晶圓中心,在藉由不同階段的轉速和時間控制,使阻劑均勻塗佈在晶圓表面上。

相關應用

半導體黃光製程應用
GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / Coater / SVS – MSX2000

光阻塗佈機/Coater

SVS MSX-2000主要是用來作半導體黃光製程的光阻塗佈。通常的做法是將定量的阻劑塗佈在晶圓中心,在藉由不同階段的轉速和時間控制,使阻劑均勻塗佈在晶圓表面上。該設備有5組塗佈基座。其設備產能較大,適合量產型生產。

相關應用

半導體黃光製程應用
GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / Develop/ M-D02

光阻顯影機/Develop

Takizawa M-D02主要是用來作半導體黃光製程中的顯影製程。晶圓在通過曝光過程結束後加入顯影液,正光阻的感光區、負光阻的非感光區,會溶解於顯影液中。這個步驟完成後,光阻層中的圖形就可以顯現出來。為了提高解析度,幾乎每一種光阻都有專門的顯影液,以保證高品質的顯影效果。

相關應用

半導體黃光製程應用
GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / Stepper / UltraTech SS300

曝光步進機/Stepper

 Ultratech SS300 曝光機是製造半導體、光電、二極體等大規模積體電路的關鍵影像轉移設備,在生產積體電路的過程中,曝光機扮演把積體電路線路圖案轉換到晶片上去的角色。 曝光機主要原理是利用紫外線通過光罩、底片等圖案模版,並搭配顯影劑使用,去除晶圓表面的光阻,以形成積體電路圖案。該設備應用於12吋的晶圓曝光使用。

相關應用

半導體黃光製程應用
GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / ICP / Tainics / TE3100

感應耦合電漿蝕刻機 /ICP

Tainics /ICP- TE3100乾式蝕刻是利用電漿來進行薄膜的蝕刻,其最大優點是具有非等向性蝕刻,主要適用於半導體製程中氮化鎵材料蝕刻or藍寶石基板蝕刻。

相關應用

半導體乾式蝕刻製程應用
氮化鎵GaN /藍寶石基板(sapphire)

半導體設備- 製程 / ICP / MAXIS / 300LAH

感應耦合電漿蝕刻機 / ICP

MAXIS ICP-300LAH乾式蝕刻機產能較大,Batch式的載盤,其工作原理是利用電漿來進行薄膜的蝕刻,其最大優點是具有非等向性蝕刻,主要適用於半導體製程中氮化鎵材料蝕刻or藍寶石基板蝕刻。

相關應用

半導體黃光製程應用
GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / PECVD /Top Engineer / STX300A

電漿化學氣相沉積 / PECVD

TOP ENGINEERING – STX300A 主要是利用電漿讓有機體在真空腔體中產生裂解與聚合反應,形成一結構緻密的保護層。此膜層具有高阻隔性。在半導體製程中可當作阻障層或保護層來使用。

用來沉積SiO2及SiNx使用

相關應用

半導體薄膜沉積製程應用
主要是用來沉積SiO2/SiNx兩種材料。GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / Asher / TOK TCA-3400

電漿去除清洗機 / Asher

TOK TCA-3400

主要是利用電漿,通入O2或Ar
對晶圓進行表面蝕刻,達到清洗之效用。

相關應用

半導體製程光阻殘膜清洗應用,主要是去除晶圓上殘留光阻使用。 GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / Sputter / FSE FU-16PSB

濺鍍機/Sputter

FSE FU16PSB是利用電漿(Plasma)對靶材料進行離子轟擊,而將靶材料表面的原子撞擊出來,這些靶原子以氣體分子型式發射出來,到達欲沉積的晶圓(基板)上,經過附著、吸附、表面遷徙、成核等過程之後,於晶圓(基板)上成長形成薄膜。

相關應用

半導體濺鍍製程應用
主要是用來做陰極氧化物材料濺鍍。 GaN氮化鎵功率晶片

半導體設備- 製程 / Electric Furnace / ULVAC H63-50LH

橫式爐管 /  Electric Furnace

 ULVAC Furnace H36-50LH 主要目的在於利用高溫,使物質之原子或分子產生活化作用,因而得以由高濃度區域移至低濃度,形成所須之半導體區域。

相關應用

半導體擴散製程應用
主要是利用高溫讓分子移動,讓材料形成所需之半導體區域。

半導體設備- 製程 / Laser Scriber / Hans WS4986

雷射切割機 / Laser Scriber

Hans WS4986 Laser Scriber主要目的將晶片用雷射擊穿晶片表面,並依循晶片之切割道進行晶片切割作業。

相關應用

半導體晶圓切割製程使用
主要是利用雷射聚焦原理,進行晶片切割。

半導體設備- 製程 / Map Sorter / ASM MS100

晶片分類機 / Sorter

ASM MS-100分類機主要目的將晶片依據光電特性及晶片外觀,進行分類挑選至出貨的藍膜上。

相關應用

LED晶粒分選製程使用。
LED

半導體設備- 量測 / PL Mapper / EtaMax PLATO

螢光分光光譜儀/ PL Mapper

EtaMaxPLATO應用於半導體材料的光學特性與電子結構的分析量測。 PL光譜可以顯示出材料的優劣性,例如:材料的均勻度、雜質分布以及缺陷(defects)。

相關應用

半導體材料特性量測使用

半導體設備- 量測 / XRD / BRUKER AXS D8

X射線繞射儀/ XRD

Bruker AXS D8 是利用X射線繞射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。 令一束X射線和樣品交互,用生成的衍射圖譜來分析晶圓物質結構。

相關應用

半導體材料特性量測使用

半導體設備- 量測 / Ellipsometry / SE500

橢偏儀/ Ellipsometry

SENTECH SE-500 主要應用於薄膜的介電性質量測。在許多不同的領域,從基礎研究到工業應用,如半導體物理研究、微電子學和生物學。橢圓偏振是一個很敏感的薄膜性質測量技術,且具有非破壞性和非接觸之優點。用來量測薄膜厚度與反射率。

相關應用

半導體材料特性量測使用